Analogowe i Cyfrowe Systemy Pomiarowe

 

LABORATORIUM

Analogowych i Cyfrowych Systemów Pomiarowych

Wydział Elektryczny, Kierunek Automatyka i Robotyka, III rok – studia stacjonarne

Prowadzący przedmiot: prof. dr hab. inż Zdzisław Nawrocki, dr inż Daniel Dusza

 

Część analogowa

 

Numer ćwiczenia

Temat   ćwiczenia

Źródło   instrukcji

W

Wprowadzenie

 
 

A

Badanie właściwości metrologicznych przekładników elektronicznych

   

B

Badanie toru pomiarowego z przetwornikiem XTR-103

           

C

Wyznaczanie właściwości pętli fazowej (Phase Locked Loop)

               

D

Badanie właściwości scalonych przetworników wartości średniej i skutecznej

       

E

Badanie wzmacniacza z generatorem fali nośnej

       

F

Badanie przetwornika pierwiastkującego, mnożącego i dzielącego

       

 

 

Część cyfrowa

  1. Wprowadzenie do środowiska programowania graficznego LabView.
  2. Tablice, wykresy, zapis i odczyt danych z pliku.
  3. Obsługa przyrządów pomiarowych w środowisku LabView - dwa terminy.
  4. Pomiary z wykorzystaniem kart pomiarowych, wyznaczanie parametrów karty pomiarowej - dwa terminy.
  5. Zaliczenie.
 
 
 do góry drukuj poleć stronę kontakt na skróty